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本期資料簡介
資料名: 《電子元器件的可靠性》
簡介:李能貴著,西安交通大學出版社出版。本書(shu) 以電子元器件的失效分析為(wei) 重點,比較全麵、係統地介紹了電子元器件的可靠性基本理論、試驗方法及數據處理方法,論述了典型元器件的失效機理和分析方法。此外,對可靠性管理進行了概要的介紹。
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