摘要：工程師在日常測試中，是否有遇到產(chan) 品不穩定經常被幹擾、偶發性問題又抓不到這樣的技術問題？例如時序的波動、幅值的跳變等。如何在連續不間斷的測試中抓捕並記錄這些跳變信號，提升產(chan) 品品質？本文給出答案。

波形數據可以反饋產(chan) 品的基礎邏輯，隻要產(chan) 品出現了問題，工程師總能從(cong) 波形上發現問題並給出解決(jue) 方案。以下將介紹幾種能抓捕異常信號的辦法，為(wei) 工程師解決(jue) 問題提供有力的數據支撐。

一、平穩波形出現異常

被測物正常狀態下輸出平穩的波形，當外界給他一些激勵如加入幹擾、做EMC測試等等，被測物可能出現波形上的變化，如何判定波形變化是否超出標準要求了呢？我們(men) 將使用示波記錄儀(yi) 的“GO-NOGO”功能解決(jue) 此問題。

“GO-NOGO”可以選擇以波形為(wei) 參考依據，波形完全在灰色的區域中運行則不觸發條件，如超出灰色框區域，則示波記錄儀(yi) 可以觸發記錄波形、截屏、報警等進一步的動作。

隻要工程師設置好對應的“灰色安全區域”，即可放心的持續進行測試，所有的異常信號均可以被記錄。

二、某一個(ge) 參數出現異常

當信號無法使用波形作為(wei) 判斷依據，則可以進一步使用“測量參數”來進行判定。如被測物沒有被幹擾時，峰峰值為(wei) 20~25V，隻要超過這個(ge) 範圍則可以視為(wei) 異常，那麽(me) 就可以使用ZDL6000示波記錄儀(yi) 進行參數上的設置，記錄儀(yi) 會(hui) 測量每一個(ge) 波形的峰峰值，隻要出現異常，即可以觸發下一步的動作，依然包含記錄波形、截屏、報警等操作。

三、多種異常條件混合時

當波形的異常條件很多，且同時需要對多路信號進行測試判定時，可以使用示波記錄儀(yi) 的“事件模式”。在此“事件模式”下，工程師可以手動設置各類事件的條件，如邊沿異常、幅值異常、超時異常等，此時示波記錄儀(yi) 就可以在連續不斷的測試中記錄滿足條件的異常事件，並將此異常事件的波形進行保存記錄。

四、自定義(yi) 異常捕獲

示波記錄儀(yi) 可以自定義(yi) 加載的算法文件來進行波形的波形的判定，這是異常信號捕獲的終極奧義(yi) 。可以當做是一種獨特判定方式，記錄儀(yi) 可以實時的針對此判定方法和源數據進行比對，並且將結果顯示出來。請參考往期文章《如何用大數據分析來解決(jue) 偶發性異常問題》。

總體(ti) 而言，示波記錄儀(yi) 具有多種捕獲異常信號的能力，隻要給它一個(ge) 條件，它就可以連續不斷的對波形進行測試判定，為(wei) 工程師解決(jue) 產(chan) 品異常問題提供有效的數據支撐。歡迎各行業(ye) 工程師谘詢試用。