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【技術大咖測試筆記係列】之七:2601B-PULSE讓VCSEL設計人員更有信心
發布時間:2021-09-24 閱讀量:1065 來源:泰克科技 作者:必威官方网站手机網匯編

作者:泰克科技技術大咖


夜深了,你正開車回家。你很累,想趕緊上床睡覺。突然,路中間出現了一個(ge) 龐然大物。汽車緊急製動,防止撞上動物,同時防止脫離道路。通過光線檢測和定距技術,也稱為(wei) LIDAR,您的汽車成功地防止了一起車禍。


圖片1.png


LIDAR是一種3D傳(chuan) 感技術,采用各種波長的脈衝(chong) 式激光,測量可變距離,檢測車輛前方、後方或側(ce) 麵的物體(ti) 。LIDAR係統的核心是垂直腔表麵發射激光器(VCSEL),這種半導體(ti) 器件從(cong) 頂部表麵垂直發射激光。VCSEL從(cong) 表麵垂直發出光,使其成為(wei) LIDAR係統的完美器件。


VCSEL的優(you) 勢之一,是能夠在半導體(ti) 晶圓上製造,可以簡便地測試電氣性能和光學性能。此外,由於(yu) LIDAR係統在陣列中要求數千個(ge) 單獨的VCSEL來執行關(guan) 鍵事務型應用,因此必須在生產(chan) 工作流程的各個(ge) 階段執行有效測試。通過各階段測試,可以在早期剔除不良VCSEL,讓結果更可預測,讓良品率更可控,並降低鑄造成本。


圖片2.png


那麽(me) 問題來了:VCSEL測試麵臨(lin) 著一長串挑戰,而且挑戰隻會(hui) 隨著技術進步不斷提高。這篇博文意在更深入地考察這些挑戰,以及泰克科技旗下公司吉時利最新推出的2601B-Pulse脈衝(chong) 器/SMU儀(yi) 器可以怎樣幫助設計人員克服這些挑戰。


使用傳(chuan) 統SMU進行VCSEL測試的挑戰


設計人員通常使用傳(chuan) 統儀(yi) 器測試VCSEL,如源測量單元(SMUs),但隨著技術不斷進步,測試挑戰數量正不斷增多。下麵是其中五個(ge) 最大的挑戰。


第一,LIDAR使用的VCSEL要求更高的功率,因此需要更高的測試電流。引入更高的測試電流因自熱提高了器件損壞的風險,在晶圓上測試時,這可能會(hui) 成為(wei) 問題,因為(wei) 它會(hui) 嚴(yan) 重降低良品率。


第二,要求在晶圓上進行脈衝(chong) 電流測試,以使器件熱量達到最小,一般要求幾十微秒的脈寬及一位數微秒或以下的上升時間。


第三,測試係統中使用的電纜長度及相關(guan) 電感影響著儀(yi) 器提供幹淨的、快速上升時間、無過衝(chong) 、無下衝(chong) 的脈衝(chong) 的能力。


第四,對LIDAR應用,VCSEL通常被驅動到高達10A,包括在陣列中。但巨大的挑戰是生成短脈衝(chong) ,短達10微秒,且上升時間非常短,通常不到2微秒。這一點非常關(guan) 鍵,因為(wei) 90%以上的VCSEL客戶要求脈衝(chong) 電流波形穩定,以保證光峰值功率、近場和遠場測量的準確度。


第五,遺憾的是,並不是所有脈衝(chong) 器/SMU儀(yi) 器都會(hui) 輸出高質量脈衝(chong) 。某些儀(yi) 器容易過衝(chong) ,上升時間長,下降時間長。許多儀(yi) 器要求手動調諧來改善脈衝(chong) 波形形狀,特別是在為(wei) VCSEL提供電流脈衝(chong) 時,其電感可能會(hui) 在不同器件之間及因測試電纜電感而變化。


圖片3.png


在電流以非常小的脈寬發送脈衝(chong) 時,某些SMUs容易過衝(chong) ,下降時間長。


最首要的,即使在特定電流電平下調諧脈衝(chong) 輸出,仍不能保證手動調諧可以得到一致的脈衝(chong) 波形,特別是在測試脈衝(chong) 式IV幅度掃描的VCSEL時。某些脈衝(chong) 器/SMU解決(jue) 方案要求大量的調諧參數,如帶寬、補償(chang) 頻率、零極點、負載阻抗和上升時間。但在生產(chan) 測試中,在車間裏調諧脈衝(chong) 輸出要麽(me) 不方便,要麽(me) 效率差。因此,行業(ye) 一直要求泰克/吉時利這樣的公司開發速度更快、電流更高的源和測量設備,以便提供他們(men) 所需的性能。


客戶就這些問題與(yu) 我們(men) 分享了許多關(guan) 注事項,告訴我們(men) :


我們(men) 需要更短的電流脈衝(chong) ,低達10μs,但電流高達10A;

我們(men) 必須使脈寬達到最小,以提供更高的電流測試VCSEL和陣列;

我們(men) 不能容忍器件變熱,甚至可能燒毀探頭尖端;

電流脈衝(chong) 的任何過衝(chong) 都可能會(hui) 導致器件損壞;

我沒時間不斷調諧來獲得最好的脈衝(chong) 輸出;

如果波形不是高保真波形,那麽(me) 可能會(hui) 導致表征錯誤,進而導致良品率差及現場故障;


吉時利脈衝(chong) 器/SMU解決(jue) 方案


為(wei) 應對客戶反饋的挑戰,吉時利最新開發了2601B-PULSE係統源表10μs脈衝(chong) 器/SMU儀(yi) 器。最新2601B-PULSE采用脈衝(chong) 表技術,是一種業(ye) 界領先的高電流/高速脈衝(chong) 器,提供了傳(chuan) 統SMU的測量及全部功能。這種最新脈衝(chong) 器在10V時提供了領先的10A電流脈衝(chong) 輸出,支持最低10μs脈寬,特別適合測試LIDAR中使用的VCSEL、照明和顯示器中的LED,以及半導體(ti) 器件表征、浪湧保護測試等。


圖片4.png


吉時利最新推出的2601B-PULSE係統源表10μs脈衝(chong) 器/SMU儀(yi) 器


脈衝(chong) 器內(nei) 置1M樣點/秒(MS/s)18位模數轉化器,可以同時采集脈衝(chong) 電流和電壓波形,而無需使用單獨的儀(yi) 器。2601B-PULSE是一種強大的解決(jue) 方案,明顯提升了各種應用中的生產(chan) 效率,如台式表征及高度自動化脈衝(chong) 式I-V生產(chan) 測試。


這種新型儀(yi) 器最具創新性的功能是不要求手動調諧,不管電流幅度是多少,也不管電感負載高達3μH。在輸出電流脈衝(chong) 時,線纜和電感可能會(hui) 成為(wei) 難題。電感可能會(hui) 有限製效應,甚至會(hui) 帶來損壞。電感在不同器件之間通常是不同的,即使是在測試晶圓上的激光二極管時。電感對電流源的影響在於(yu) ,電感會(hui) 阻止電流變化。這會(hui) 導致電流源提高輸出電壓,在脈衝(chong) 穩定時導致過衝(chong) 和振鈴,而這在測試中是不可接受的。


圖片5.png

被測器件和測試係統電纜中的電感可能會(hui) 影響輸出電流脈衝(chong) 的質量。


如前所述,某些解決(jue) 方案要求調諧以補償(chang) 這些行為(wei) ,可能會(hui) 耗費很長時間。2601B-PULSE的控製環路係統對10A以下任何電流3μH以下負載變化不需要手動調諧,因此在輸出10μs~500μs脈衝(chong) 時沒有過衝(chong) 和振鈴。這保證了快速上升時間,可以為(wei) 器件提供電流脈衝(chong) ,正確表征器件或電路。在通過多個(ge) 幅度掃描脈衝(chong) 時,如VCSEL脈衝(chong) 式LIV測試掃描中,這一點異常重要。下圖顯示了各種電流幅度時的高保真電流脈衝(chong) 輸出及2601B-PULSE的電感負載。


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使用2601B-PULSE時0μH、1μH、3μH負載上的10A脈衝(chong) 輸出。


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使用2601B-PULSE時0μH、1μH、3μH負載上的1A脈衝(chong) 輸出。


圖片8.png

使用2601B-PULSE時0μH、1μH、3μH負載上的0.1A脈衝(chong) 輸出。


很明顯,2601B-PULSE提供了業(ye) 界領先的電流脈衝(chong) 輸出性能,消除了手動調諧,而在高速自動探測係統中測試晶圓上的VCSEL時,手動調諧效率很差。上圖清楚地顯示了您可以滿懷信心地測試,而不管電流電平及不同電感負載,可以實現可重複的性能和上升時間。這款新儀(yi) 器提供了許多好處:


使用一台儀(yi) 器進行DC/脈衝(chong) 電流和電壓測量;

滿懷信心地表征VCSEL,幫助您開發下一代材料、元器件和模塊;

不需要手動調諧脈衝(chong) 輸出,保證高脈衝(chong) 保真度,縮短測試時間,節省生產(chan) 成本;

最大限度地減少器件自熱,減少探頭尖端燒毀的風險,從(cong) 而保護VCSEL、VSCEL陣列和LED;

測量最低一位數μs的采樣率,同時計算10V時10μs、10A電流脈衝(chong) ;


您正麵臨(lin) 著哪些測試挑戰?


您是否裝備充足,可以表征LIDAR使用的VCSEL或者其他光電器件?您是否準備好克服這些不斷進化的器件提出的不斷增長的挑戰?歡迎與(yu) 我們(men) 溝通您的脈衝(chong) 測試應用,討論最新2601B-PULSE可以怎樣幫助您解決(jue) 挑戰。請與(yu) 我們(men) 的應用工程師聯係,或訪問2601B-PULSE產(chan) 品頁麵了解更多信息。


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