電子產(chan) 品開發的關(guan) 鍵工作是原理設計、元器件選型、驗證測試等。元器件選型是其中非常重要的一環。元器件選型要求掌握的知識和信息非常多。雖然元器件原理本身看起來很簡單，這些原理都是高度理想化的模型，現實中的元器件遠比這些模型原理複雜。

很多電子產(chan) 品其實是抄板設計，或者在別人的電路上做點小小的改動。選用元器件時，照抄別人的就可以了。事實上如果不了解原理，抄也會(hui) 抄錯的，特別是有所改動時更容易犯錯。也許人家可以那樣選元器件，可是你們(men) 就不適合那樣選元器件。隻有知其所以然，才能選用到最合適的元器件。

新選用的元器件需要認證測試。對於(yu) 元器件的認證，一般硬件工程師隻會(hui) 做上機測試或簡單的性能測試，這樣很多極限情況是模擬不了的。如果把元器件認證測試拋給質量部，那也不妥，因為(wei) 質量部的專(zhuan) 業(ye) 技術水平不夠，導致他們(men) 無法作出專(zhuan) 業(ye) 的認證測試。元器件工程師則是精通元器件的認證測試技術，所以對新元器件的認證把關(guan) 起到重要作用。元器件選型除了考慮元器件的技術應用。考慮元器件的市場狀況也是重要因素之一。某種元器件市場上有哪些品牌，這些品牌的質量、價(jia) 格、交貨、信譽如何等等這些都是考慮因素。

直熱式陰極的小型電子管，壽命應高於(yu) 1000小時，間熱式電子管的壽命應高於(yu) 500小時。這是因為(wei) 直熱式陰極小型電子管多半用於(yu) 電池供電的設備，燈絲(si) 即陰極和陽極的功率都設計的比較低，節省設備功耗以延長電池使用時間。這樣整個(ge) 電子管內(nei) 部的工作溫度比間熱式低得多，電子管的壽命也比較長。一般電子管壽命終了的主要失效機理，就是陰極發射能力衰落，管內(nei) 真空度降低和燈絲(si) 燒斷等等。

小型電子管普遍使用氧化物陰極，這是一種高效的熱電子發射結構，直熱式陰極就是在加熱燈絲(si) 表麵直接塗覆氧化物熱電子發射材料;間熱式陰極是在陰極套管表麵塗覆氧化物熱電子發射材料，另外用套管中的燈絲(si) 間接加熱陰極。氧化物陰極的熱電子發射材料主要是氧化鋇，而氧化鋇是非常不穩定的材料，在常溫和暴露在空氣中難以保證塗覆，在工藝過程中又會(hui) 吸收管中其他零件釋放出氣體(ti) 的分子，最後導致失效。所以在實際工藝中，在陰極上塗覆的是一種穩定的鋇酸鹽材料。

當電子管已經被抽成高真空，並熔化了玻殼的排氣管形成密封後，再把陰極加熱到高於(yu) 工作時的溫度，使鋇酸鹽分解成氧化鋇來激活這個(ge) 陰極，然後它才可以長期穩定的在被加熱時發射電子。這一陰極激活工序稱為(wei) “老煉”，是在電子管封離排氣設備之後進行。閱讀了工廠所作的壽命試驗測試記錄，顯示壽命不合格的原因就是由於(yu) 陰極的電子發射能力快速下降，造成陽極電流和跨導等參數下降。仔細了解了老煉的工藝規程，並用光學高溫計測量了陰極在老煉時和正常工作時的溫度。發現即使在正常工作時，燈絲(si) 即陰極的溫度都明顯高於(yu) 其他正常氧化物陰極的約1000oK典型工作溫度。